Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1007183179 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Robust design of DRAM core circuits : yield estimation and analysis by a statistical design approach / Yan Li |
| Person(en) | Li, Yan (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2010 |
| Umfang/Format | IX, 127 S. : graph. Darst. ; 30 cm |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Li, Yan: Robust design of DRAM core circuits |
| Hochschulschrift | München, Techn. Univ., Diss., 2010 (Nicht für den Austausch) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| DDC-Notation | 621.3973 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 004 Informatik |
| Frankfurt |
Signatur: 2011 B 4796 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2010 B 30966 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
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