00000nam a2200000uc 4500
106919963X
DE-101
20210429164935.0
cr||||||||||||
150402s2014 gw |||||om||| 00||||ger
15,O05
dnb
DE-101
106919963X
urn
urn:nbn:de:bvb:91-diss-20141105-1071912-1-9
(DE-599)DNB106919963X
(OCoLC)907776505
1240
ger
DE-101
9999
ger
XA-DE-BY
13\u
621.39732
DE-101
22/ger
14\p
621.3
DE-101
23sdnb
13\u
621.39732
1\p
Gawlina-Schmidl, Yvonne
Verfasser
aut
Analyse ioneninduzierter Ausfallmechanismen in hochintegrierten CMOS-Speicherzellen
Yvonne Gawlina-Schmidl. Gutachter: Gerhard Wachutka ; Dieter Silber. Betreuer: Gerhard Wachutka
Analysis of ion induced failure mechanisms in highly integrated CMOS memory cells
München
Universitätsbibliothek der TU München
2014
Online-Ressource
Text
txt
rdacontent
Computermedien
c
rdamedia
Online-Ressource
cr
rdacarrier
München, Technische Universität München, Diss., 2014
Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet
DE-101
pdager
(DE-588)4381052-4
https://d-nb.info/gnd/4381052-4
(DE-101)944850820
Statisches RAM
rswk-swf
gnd
(DE-588)4278777-4
https://d-nb.info/gnd/4278777-4
(DE-101)042787777
CMOS-Speicher
rswk-swf
gnd
(DE-588)1077446799
https://d-nb.info/gnd/1077446799
(DE-101)1077446799
Soft Error
rswk-swf
gnd
(DE-588)4254228-5
https://d-nb.info/gnd/4254228-5
(DE-101)042542286
Latch-up-Effekt
rswk-swf
gnd
(DE-588)4162347-2
https://d-nb.info/gnd/4162347-2
(DE-101)041623479
Ionenstrahl
rswk-swf
gnd
(DE-588)4148259-1
https://d-nb.info/gnd/4148259-1
(DE-101)04148259X
Computersimulation
rswk-swf
gnd
4\p
(DE-588)4182147-6
https://d-nb.info/gnd/4182147-6
(DE-101)041821475
Speicherzelle
gnd
5\p
(DE-588)4010319-5
https://d-nb.info/gnd/4010319-5
(DE-101)040103196
CMOS
gnd
6\p
(DE-588)4004741-6
https://d-nb.info/gnd/4004741-6
(DE-101)040047415
Bauelement
gnd
7\p
(DE-588)4060646-6
https://d-nb.info/gnd/4060646-6
(DE-101)040606465
Transistor
gnd
8\p
(DE-588)4014735-6
https://d-nb.info/gnd/4014735-6
(DE-101)040147355
Energieverlust
gnd
9\p
(DE-588)4381052-4
https://d-nb.info/gnd/4381052-4
(DE-101)944850820
Statisches RAM
gnd
10\p
(DE-588)4070745-3
https://d-nb.info/gnd/4070745-3
(DE-101)040707458
Elektrischer Strom
gnd
11\p
(DE-588)4113826-0
https://d-nb.info/gnd/4113826-0
(DE-101)041138260
Halbleiterbauelement
gnd
12\p
(DE-588)4121943-0
https://d-nb.info/gnd/4121943-0
(DE-101)041219430
Zelle
Mikroelektronik
gnd
ELT Elektrotechnik
PHY Physik
(Zielgruppe)Fachpublikum/ Wissenschaft
(Produktform (spezifisch))Unsewn / adhesive bound
Soft Errors
Single Event Latchup
CMOS-Speicherzellen
(DE-588)4113937-9
https://d-nb.info/gnd/4113937-9
(DE-101)041139372
Hochschulschrift
gnd-content
(DE-588)4381052-4
https://d-nb.info/gnd/4381052-4
(DE-101)944850820
s
Statisches RAM
(DE-588)4278777-4
https://d-nb.info/gnd/4278777-4
(DE-101)042787777
s
CMOS-Speicher
(DE-588)1077446799
https://d-nb.info/gnd/1077446799
(DE-101)1077446799
s
Soft Error
(DE-588)4254228-5
https://d-nb.info/gnd/4254228-5
(DE-101)042542286
s
Latch-up-Effekt
(DE-588)4162347-2
https://d-nb.info/gnd/4162347-2
(DE-101)041623479
s
Ionenstrahl
(DE-588)4148259-1
https://d-nb.info/gnd/4148259-1
(DE-101)04148259X
s
Computersimulation
DE-101
DE-101
2\p
Wachutka, Gerhard
Akademischer Betreuer
dgs
3\p
Silber, Dieter
Akademischer Betreuer
dgs
DE-101a
DE-101b
https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:91-diss-20141105-1071912-1-9
Resolving-System
https://d-nb.info/106919963X/34
Langzeitarchivierung Nationalbibliothek
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:91-diss-20141105-1071912-1-9
Verlag
kostenfrei
1\p
dnb
20200611
DE-101
https://d-nb.info/provenance/plan#dnb
2\p
npi
20200611
DE-101
https://d-nb.info/provenance/plan#npi
3\p
npi
20200611
DE-101
https://d-nb.info/provenance/plan#npi
4\p
aepgnd
0,164
20160514
DE-101
https://d-nb.info/provenance/plan#aepgnd
5\p
aepgnd
0,043
20160514
DE-101
https://d-nb.info/provenance/plan#aepgnd
6\p
aepgnd
0,018
20160514
DE-101
https://d-nb.info/provenance/plan#aepgnd
7\p
aepgnd
0,015
20160514
DE-101
https://d-nb.info/provenance/plan#aepgnd
8\p
aepgnd
0,008
20160514
DE-101
https://d-nb.info/provenance/plan#aepgnd
9\p
aepgnd
0,006
20160514
DE-101
https://d-nb.info/provenance/plan#aepgnd
10\p
aepgnd
0,005
20160514
DE-101
https://d-nb.info/provenance/plan#aepgnd
11\p
aepgnd
0,005
20160514
DE-101
https://d-nb.info/provenance/plan#aepgnd
12\p
aepgnd
0,003
20160514
DE-101
https://d-nb.info/provenance/plan#aepgnd
14\p
dnb-pa
20151014
DE-101
https://d-nb.info/provenance/plan#dnb-pa
ro
rh
39387137