Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Link zu diesem Datensatz	https://d-nb.info/gnd/4333578-0
Sachbegriff	Rasterkraftmikroskop
Quelle	Römpp (online); Physikal. Blätter 48(1992) Nr. 12 S. 1007
Erläuterungen	Definition: Hochauflösendes Mikroskop zur Abbildung von Oberflächen und Messung atomarer Kräfte auf der Nanometerskala
Oberbegriffe	Rastersondenmikroskop
DDC-Notation	502.82
Systematik	21.3 Elektrizität, Magnetismus, Optik
Typ	Allgemeinbegriff (saz)
Andere Normdaten	LCSH: Atomic force microscopy RAMEAU: Microscopie à force atomique
Untergeordnet	1 Datensatz Kantilever Rasterkraftmikroskop
Thema in	50 Publikationen Großflächige Topographiemessungen mit einem Weißlichtinterferenzmikroskop und einem metrologischen Rasterkraftmikroskop Wu, Yiting. - Erlangen : FAU University Press, 2022 Großflächige Topographiemessungen mit einem Weißlichtinterferenzmikroskop und einem metrologischen Rasterkraftmikroskop Wu, Yiting. - Erlangen : FAU University Press, 2022 ...
Maschinell verknüpft mit	10 Publikationen Optimierung und Objektivierung der DNA-Biegewinkelmessung zur Untersuchung der initialen Schadenserkennung von Glykosylasen im Rahmen der Basen-Exzisions-Reparatur Mehringer, Christian Felix. - Würzburg : Universität Würzburg, 2021 Realisierung der Steuerungs-/Regelungsalgorithmen mittels FPGA für ein hochauflösendes und schnelles Rasterkraftmikroskop mit aktivem Cantilever Ahmad, Ahmad. - Ilmenau : TU Ilmenau, 2018 ...

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